Автор

С. Ф. Петренко

НПК ТОВ «ЛИЛЕЯ», Київ, Україна

Статей 2
Переглядів профілю 511

Усі статті

  • open access Open access

    Особливості проведення досліджень мікрогеометрії та поверхневих властивостей діелектричних матеріалів для мікро- і наноелектроніки

    Авторів:
    С. Ф. Петренко , О. Г. Новаковський , Віктор Степанович Антонюк , Юлія Юріївна Бондаренко
    DOI: https://doi.org/10.24025/2306-4412.1.2018.153265