Автор

Сергій Вікторович Ротте

Черкаський державний технологічний університет

18006, бульв. Шевченка, 460, м. Черкаси, Україна

https://orcid.org/0000-0003-1281-1241

Усі статті

open access

Ключові слова: мультизондова атомно-силова мікроскопія; мехатронний пристрій; функціональна поверхня; топологія поверхні; тонке покриття

Дослідження функціональних поверхонь мехатронних пристроїв методом мультизондової атомно-силової мікроскопії

Ігор Сергійович Кобиць, Олександр Олександрович Бруньов, Ольга Іванівна Андрієнко, Світлана Олександрівна Білокінь, Сергій Вікторович Ротте, Максим Бондаренко

https://doi.org/10.24025/2306-4412.3.2021.246972

ЦИТУВАТИ

Kobyts, I., Brunov, O., Andriienko, O., Bilokin, S., Rotte, S., & Bondarenko, M. (2021). Investigation of functional surfaces of mechatronic devices by multiprobe atomic force microscopy . Bulletin of Cherkasy State Technological University, 26(3), 24-35. https://doi.org/10.24025/2306-4412.3.2021.246972
Читати далі
  • 18.10.2021
  • 1 130 Переглядів
  • Library Science. Record Studies. Informology - Том 26, № 3, 2021